Cámara Termográfica PI 640i con Lente de Microscopio
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Cámara Termográfica PI 640i con Lente de Microscopio

Cámara Termográfica PI 640i con Lente de Microscopio

Máxima precisión a nivel chip

  • Análisis de pequeños componentes a nivel de chip de hasta 8 μm
  • Óptica intercambiable y enfocable para un uso más flexible de la c amera
  • Soporte de microscopio incluido para un funcionamiento / comprobación simultáneos manos libres
  • Objetivos intercambiables y enfocables para un uso más flexible de la cámara
  • Con una resolución de temperatura (NETD) de 80 mK
  • Las frecuencias de imagen de hasta 125 Hz permiten la inspección de procesos rápidos (como diodos láser pulsados)
  • Grabación radiométrica en vídeo o tiff con una precisión de medición de +/-2 °C
  • Software de análisis sin licencia y SDK completo incluidos
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Descripción

Óptica de microscopio para termografía a nivel de chip de componentes y placas electrónicas.

Las ópticas de microscopio de nuevo desarrollo están especialmente diseñadas para la inspección térmica de placas electrónicas y el análisis de pequeños componentes a nivel de chip de hasta 8 μm. La distancia entre el objeto de medición y la cámara termográfica puede variar entre 80 y 100 mm (MO44) o 15 mm (MO2X).

  • Análisis termográfico de pequeños componentes a nivel de chip de hasta 8 μm
  • Óptica intercambiable y enfocable para un uso más flexible de la c amera
  • Soporte de microscopio incluido para un funcionamiento / comprobación simultáneos manos libres
  • Objetivos intercambiables y enfocables para un uso más flexible de la cámara termográfica
  • Resolución de temperatura (NETD) de 80 mK
  • Las frecuencias de imagen de hasta 125 Hz permiten la inspección termográfica de procesos rápidos (como diodos láser pulsados)
  • Grabación radiométrica en vídeo o tiff con una precisión de medición de +/-2 °C
  • Software de análisis termográfico sin licencia y SDK completo incluidos

Lentes:

  • MO44: f=44 mm/ 20.0 x 14.0 mm (F=1.1)/ Min. spot (IFOV): 28 μm
  • MO2X: f=60 mm/ 5.4 x 4.0 mm (F=1.3)/ Min. spot (IFOV): 8 μm

Rango de Temperatura:

-20-100 °C/ 0-250 °C/ (20)150-900 °C

Aplicaciones

La óptica del microscopio optris es idónea para analizar térmicamente tanto placas de circuitos enteras como macrofotografías detalladas de componentes individuales que pueden medirse de forma fiable. La alta resolución térmica y de detalles geométricos de las cámaras de infrarrojos permite una comprobación funcional eficaz y precisa de los productos electrónicos. Con la nueva óptica de microscopio MO2X de 2 aumentos, la cámara de infrarrojos PI 640i de Optris es ahora capaz de capturar imágenes infrarrojas incluso de estructuras complejas. Para una medición exacta de la temperatura se necesitan 4×4 píxeles (MFOV), por lo que ahora se pueden medir objetos con un tamaño de sólo 34 µm (MO44). Esto significa que incluso las estructuras más pequeñas pueden analizarse a nivel de chip. La resolución térmica de 80 mK es un valor excelente para esta óptica. El enfoque de la nueva óptica permite trabajar a una distancia de 15 mm del objeto medido. Dado que las ópticas de las cámaras de infrarrojos de la serie PI pueden intercambiarse fácilmente, el sistema puede utilizarse de forma flexible para diversas tareas de medición. Junto con el estativo de microscopio de alta calidad con ajuste fino suministrado, los conjuntos microelectrónicos pueden inspeccionarse muy fácilmente.

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