Descripción
Óptica de microscopio para termografía a nivel de chip de componentes y placas electrónicas.
Las ópticas de microscopio de nuevo desarrollo están especialmente diseñadas para la inspección térmica de placas electrónicas y el análisis de pequeños componentes a nivel de chip de hasta 8 μm. La distancia entre el objeto de medición y la cámara termográfica puede variar entre 80 y 100 mm (MO44) o 15 mm (MO2X).
- Análisis termográfico de pequeños componentes a nivel de chip de hasta 8 μm
- Óptica intercambiable y enfocable para un uso más flexible de la c amera
- Soporte de microscopio incluido para un funcionamiento / comprobación simultáneos manos libres
- Objetivos intercambiables y enfocables para un uso más flexible de la cámara termográfica
- Resolución de temperatura (NETD) de 80 mK
- Las frecuencias de imagen de hasta 125 Hz permiten la inspección termográfica de procesos rápidos (como diodos láser pulsados)
- Grabación radiométrica en vídeo o tiff con una precisión de medición de +/-2 °C
- Software de análisis termográfico sin licencia y SDK completo incluidos
Lentes:
- MO44: f=44 mm/ 20.0 x 14.0 mm (F=1.1)/ Min. spot (IFOV): 28 μm
- MO2X: f=60 mm/ 5.4 x 4.0 mm (F=1.3)/ Min. spot (IFOV): 8 μm
Rango de Temperatura:
-20-100 °C/ 0-250 °C/ (20)150-900 °C