thicknessGAUGE.confocal

Sistema de sensores
confocales

  • Tecnología de sensor utilizada: sensores de desplazamiento cromático confocal
  • Rango de medición (espesor): 2 mm
  • Precisión: ± 0,25 µm
  • Tasa de medición: hasta 5 kHz
  • Ideal para mediciones de alta resolución de superficies brillantes y altamente reflectantes
  • También para film transparente y semitransparente

Descripción

Los sistemas de sensores de thicknessGAUGE.laser utilizan sensores de desplazamiento cromático confocal para la medición del espesor. Los sensores permiten realizar mediciones con una precisión excelente y con altas tasas de medición. Además, esta innovadora técnica de medición permite medir superficies reflectantes y brillantes, así como objetos semitransparentes.

Características principales

  • Tecnología de sensor utilizada: sensores de desplazamiento cromático confocal
  • Rango de medición (espesor): 2 mm
  • Precisión: ± 0,25 µm
  • Tasa de medición: hasta 5 kHz
  • Ideal para mediciones de alta resolución de superficies brillantes y altamente reflectantes
  • También para film transparente y semitransparente
El sistema de sensor de espesor thicknessGAUGE.laser se utiliza para mediciones precisas del espesor de tiras y placas.

También se puede utilizar para mediciones de líneas centrales (espesor central) o para mediciones de espesores en los bordes. Una unidad lineal permite realizar mediciones de espesores de hasta 400 mm de ancho de banda.

Calibración automática y compensación de temperatura

Los sistemas de sensores de thicknessGAUGE están equipados con calibración in situ para compensar, por ejemplo, los efectos de las temperaturas fluctuantes. Los ciclos de calibración se pueden ajustar individualmente. Además de la compensación de temperatura, la calibración in situ permite verificar el correcto funcionamiento del sistema de forma cíclica y en cualquier momento.

Características

  • Tecnología de sensor utilizada: sensores de desplazamiento cromático confocal
  • Rango de medición (espesor): 2 mm
  • Precisión: ± 0,25 µm
  • Tasa de medición: hasta 5 kHz
  • Ideal para mediciones de alta resolución de superficies brillantes y altamente reflectantes
  • También para film transparente y semitransparente

Documentación

Aplicaciones

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Aplicaciones principales

  • Superficies reflectantes y brillantes
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