Descripción
Los sistemas UV-VIS ofrecen mediciones rápidas y fiables a partir de 190 nm.
La plataforma del sistema es modular y permite múltiples opciones de integración para un manejo fácil y eficiente de diversas tareas de medición en aplicaciones de investigación y producción. Debido al diseño dedicado del sistema para procesos industriales, incluso las aplicaciones en entornos hostiles son posibles sin ninguna dificultad, incluida la conexión simple y segura a los sistemas de control de procesos que utilizan conceptos de interfaz comunes establecidos en el mercado.
Los componentes adecuados (sensores espectrales, electrónica) también están disponibles para integradores de sistemas y socios OEM.
